av Xinfei Guo och Mircea R. Stan
Förlag | Springer Nature |
Språk | Engelska |
Bandtyp | Häftad |
Utgiven | 2020-08-14 |
Upplaga | 1 |
Antal sidor | 208 |
ISBN | 9783030200534 |
Kategori(er) |
This book describes methods to address wearout/aging degradations in electronic chips and systems, caused by several physical mechanisms at the device level. The authors introduce a novel technique called accelerated active self-healing, which fixes wearout issues by enabling accelerated recovery. Coverage includes recovery theory, experimental results, implementations and applications, across multiple nodes ranging from planar, FD-SOI to FinFET, based on both foundry provided models and predictive models.
Hittills har vi återanvänt
2
3
4
5
8
5
4
böcker.
Sveriges grönaste och skönaste bokhandel med den billigaste kurslitteraturen.
Detta är vår ambition och vi tummar inte på något för att nå dit. Vi finns till för att hjälpa studenter att spara och tjäna pengar på sin kurslitteratur samtidigt som vi tillsammans gör miljön en tjänst. Företaget startade våren 2005 av två studenter och har sedan dess strävat mot att ständigt göra det enklare att köpa och sälja begagnad kurslitteratur för så många som möjligt.
Prenumerera för att ta del av våra bästa studenttips, erbjudanden och kampanjer.
Läs mer om hur vi hanterar persondata i vårt avsnitt om personuppgiftbehandling.
Sök efter bokens streckkod/isbn.